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Módulo de fuente de alimentación con transistores EBM/TEG
Módulo de fuente de alimentación con transistores EBM/TEG
Descripción general
Especificaciones técnicas
Ventajas del producto
Aplicaciones del producto
Descripción general del producto
El EBM30N/TEG es una solución de alimentación de alto voltaje integrada diseñada específicamente para microscopios electrónicos de barrido de emisión termoiónica (SEM).
Proporciona múltiples salidas de bajo ruido y ultrastables, incluyendo fuentes para acelerador, filamento, polarización, PMT, centelleador y colector.
La tecnología de encapsulado patentada de Spellman garantiza un tamaño más reducido, un nivel de ruido inferior y un rendimiento superior en comparación con las fuentes de alimentación convencionales para SEM.
La programación analógica diferencial y los mecanismos de protección integrales garantizan un funcionamiento seguro y fiable del SEM.
Especificaciones técnicas
| Artículo | Especificación |
| Potencia de entrada | +24 VCC ±5%, máx. 2,5 A |
| Voltaje del acelerador | De 0 a −30 kV, 170 µA; ultraestable, con baja ondulación |
| Cancelación de sesgo | De 0 a +3,5 kV, 150 µA; referenciado al acelerador |
| Suministro de filamento | −1,936 a +1,936 V, máx. 3,87 A; monitoreo de falla del filamento |
| Tensión alta de PMT | De 0 a −1300 V, máx. 250 µA |
| Alta tensión del centelleador | +8 kV a +11 kV, máx. 1 mA |
| Suministro del coleccionista | 30 V a 500 V, máximo 5 mA |
| Conectores | Claymount CA11 Mini 75 (Acelerador); BNC.HT (PMT/Colector); Spellman personalizado (Cintilador); JST (I/O) |
| Temperatura de funcionamiento | 0°C a +45°C |
| Temperatura de almacenamiento | De −20 °C a +75 °C |
| Humedad | 0–85% de humedad relativa, sin condensación |
| Dimensiones | 105 × 250 × 190 mm |
| Peso | 7.5kg |
| Certificaciones | UL, CE, UKCA, RoHS; cumple con IEC/UL 61010-1 |
Ventajas del producto
● Diseño dedicado para sistemas de tríodos termoiónicos para SEM
● Precisión extremadamente alta, bajo nivel de ruido y alta estabilidad
● Módulo integrado de múltiples salidas reduce el tamaño y el costo del sistema
● Protección completa: sobretensión, sobrecorriente, arco y cortocircuito
● Programación diferencial para una excelente inmunidad al ruido
● Certificaciones mundiales para una integración sencilla
● Personalización disponible
Aplicaciones del producto
● Microscopios electrónicos de barrido termiónicos (SEM)
● Módulo de alimentación de repuesto o actualización para sistemas SEM
● Microscopía electrónica científica y educativa
● Equipo de imagen por haz de electrones
● Fuente de alimentación para el detector PMT y el centelleador
● Instrumentos electrónicos-ópticos de alta precisión
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